原子力顯微鏡作為一款缺陷形貌分析的精密測量儀器╃•╃◕，其主要目的是對樣品進行缺陷檢測☁◕◕▩。而儀器所提供的資料不能允許任何錯誤的存在☁◕◕▩。Park NX20╃•╃◕，這款精密的大型樣品原子力顯微鏡╃•╃◕，憑藉著出色的資料準確性╃•╃◕，在半導體和超平樣品行業中大受讚揚☁◕◕▩。