原子力顯微鏡作為一款缺陷形貌分析的精密測量儀器✘₪，其主要目的是對樣品進行缺陷檢測↟╃╃☁✘。而儀器所提供的資料不能允許任何錯誤的存在↟╃╃☁✘。Park NX20✘₪，這款精密的大型樣品原子力顯微鏡✘₪，憑藉著出色的資料準確性✘₪，在半導體和超平樣品行業中大受讚揚↟╃╃☁✘。