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原子力顯微鏡

原子力顯微鏡作為一款缺陷形貌分析的精密測量儀器╃•╃◕,其主要目的是對樣品進行缺陷檢測☁◕◕▩。而儀器所提供的資料不能允許任何錯誤的存在☁◕◕▩。Park NX20╃•╃◕,這款精密的大型樣品原子力顯微鏡╃•╃◕,憑藉著出色的資料準確性╃•╃◕,在半導體和超平樣品行業中大受讚揚☁◕◕▩。

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