原子力顯微鏡

原子力顯微鏡用於故障分析和大型樣品研究的奈米計量工具

作為一款缺陷形貌分析的精密測量儀器▩•◕·▩，其主要目的是對樣品進行缺陷檢測·╃。而儀器所提供的資料不能允許任何錯誤的存在·╃。Park NX20▩•◕·▩，這款精密的大型樣品原子力顯微鏡▩•◕·▩，憑藉著出色的資料準確性▩•◕·▩，在半導體和超平樣品行業中大受讚揚·╃。

分析功能

Park NX20可快速幫助客戶找到產品失效的原因▩•◕·▩，並幫助客戶制定出更多具有創意的解決方案·╃。精密度為您帶來高解析度資料▩•◕·▩，讓您能夠更加專注於工作·╃。與此同時▩•◕·▩，真正非接觸掃描模式讓探針尖端更鋒利◕↟•、更耐用▩•◕·▩，無需為頻繁更換探針而耗費大量的時間和金錢·╃。

即便是第一次接觸原子顯微鏡的工程師也易於操作

ParkNX20擁有業界便捷的設計和自動介面▩•◕·▩，讓你在使用時無需花費大量的時間和精力▩•◕·▩，也不用為此而時時不停的指導初學者·╃。藉助這一系列特點▩•◕·▩，您可以更加專注於解決更為重大的問題▩•◕·▩，併為客戶提供及時且富有洞察力的失效分析報告·╃。

樣品側壁三維結構測量

NX20的創新架構讓您可以檢測樣品的側壁和表面▩•◕·▩，並測量它們的角度·╃。眾多的功能和用途正是您的創新性研究和敏銳洞察力所必備的·╃。

對樣品和基片進行表面光潔度測量

表面光潔度測量是Park NX20的關鍵應用之一▩•◕·▩，能夠帶來精確的失效分析和質量保證·╃。

高解析度電子掃描模式

QuickStep SCM

掃描式電容顯微鏡

PinPoint AFM

無摩擦導電原子力顯微鏡