原子力顯微鏡集成了“非接觸式工作模式”“智慧掃描模式”“基於壓電陶瓷堆積技術的平板掃描器”技術✘•，並標配快速掃描模式✘•，變速掃描模式✘•，多種測量模式可選✘•，被廣泛用於半導體✘•，LCD✘•，LED✘•，OLED✘•，硬碟等工業領域◕•╃▩•。
　　原子力顯微鏡的技術特色╃↟↟✘₪：
　　1.採用非接觸式工作模式╃↟↟✘₪：非接觸測量模式✘•，在不影響測量精度的前提下✘•，可實現樣品與針尖的非接觸測量✘•，避免了由於針尖磨損帶來測量重複性差與探針磨損快的缺點◕•╃▩•。
　　2.探測器噪聲水平低╃↟↟✘₪：Z軸探測器是顯微鏡的核心技術改進之一✘•，新型應變感測器✘•，憑藉著超低噪聲✘•，檢測原子臺階及其容易◕•╃▩•。
　　3.採用高效能平板掃描器╃↟↟✘₪：三軸分離的平板掃描器✘•，在整個掃描範圍內誤差小◕•╃▩•。
　　4.操作極其簡單╃↟↟✘₪：具有“智慧掃描模式”✘•，使用者只需要選擇掃描速度及掃描範圍✘•，系統即可自動調整反饋✘•，無需尋找共振峰✘•，無需調整反饋引數gain值◕•╃▩•。
　　5.具有中文✘•，英文等多種操作介面✘•，
　　6.預準直懸臂架✘•，懸臂在裝載時鐳射便已完成聚焦◕•╃▩•。自上而下的同軸視角可以輕鬆地找到鐳射光點◕•╃▩•。由於鐳射垂直照射在懸臂上✘•，可以憑直覺旋動兩個定位旋鈕✘•，將鐳射光點隨著X軸和Y軸移動◕•╃▩•。這樣✘•，可以在鐳射準直介面中✘•，輕易地找到鐳射並將其定位在PSPD上◕•╃▩•。只需要稍作調整實現訊號的最大化✘•，便可開始獲取資料◕•╃▩•。
　　7.工業級別的XEA軟體╃↟↟✘₪：具有自動識別✘•，自動掃描✘•，自動分析功能✘•，大大節約了人工操作的誤差及浪費的時間◕•╃▩•。
　　原子力顯微鏡在市場中競爭力最強✘•，不但有著全行業最低的電流噪聲✘•，且增益範圍也是最大✘•，並且可實現電流快速掃描功能✘•，是半導體測試電流的標準◕•╃▩•。